AOI检测系统的通用架构，该系统由光源，相机阵列、显微复检、集群并行处理系统、控制系统、主控计算机、服务器组成，以及与工厂数据中心互联的工业局域网组成。该系统架构具有大幅面表面缺陷低分辨率快速检出和高分辨率显微复检两种功能。从图中可以看出，完整的AOI系统不仅集成了照明与光学成像单元，还需要有被测件支撑传输单元、精密运动机构与控制单元、高速并行图像处理单元等。
自动光学检测用于检查导体电路图形(蚀刻后)的质量：
将抗蚀膜层退除后，检查导体铜电路图形zui广泛的是使用AOI.在这方面的应用是非常普遍的，要获得图像的清晰度的提高,完全决定于过滤器的适当选择,使铜导体表面呈现出不同的变换。zui多的情况,AOI系统检查蚀刻后的导线宽度,这就很容易涉及到多层板内层的导体表面形态和导线边壁的形态的类似的显现,这种形态决定于蚀刻的工艺或微蚀刻的工艺特性。特别是经过电镀的导体线路的经过蚀刻后形态。
六.自动光学检测用于检查微孔质量
孔金属化前激光钻孔后，或金属化孔后微孔是可以检查的。孔金属化后经过AOI检查，所获取的信息证实孔内镀层覆盖的完整性，而不是金属与焊盘的结合状态。如果首道工序要求进行蚀刻，激光钻孔前进行铜导体进行敷形掩膜，于是在钻孔前需要对敷形掩膜附加检查步骤。检查钻孔后的环氧钻污，就是根据图形暗(非反射)环形的工艺特性采用反射的模式进行检查。反射的中心目标是带有铜的焊盘,即微孔的底部。而墨暗的凹处是介质材料本身的边壁而不是金属化镀层,俯视到是外层发光的范围内表面是铜。
CCD相机歪斜，需要调整其水平位置，通过调度相机左右两边的固定螺丝，可进行手动调节处理，但注意，上面已经说到，相机歪斜一般是人为损坏造成;
所以，调试这种精密器械的精密部位，稍有偏离都会造成较大的影响，所以，如果调试仍无法良好解决，建议联系厂商技术人员进行指导。
焦距调节在，但出厂时一般是锁定状态，需要调节时一定要联系厂商技术人员指导进行;
元件模糊请调试。这方面与单反相机镜头是一样的，但好还是联系厂商技术人员指导进行;
颜色的调节，联系厂商技术人员指导进行较为妥当，必定这些都是精细的技术工作，不得马虎;
以上信息由专业从事检测不良标记设备的亿昇光电于2025/7/18 15:48:17发布
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