在反射模式将白色的纸放置在光具(底片)之下，介于光具透明和不透明范围之间，以提高其对比度。经过交替的变换达到或接近所使用的标准的AOI系统。这种方法不是通用的的，更多的倾向是由于微小的划伤，才会出现假的缺陷报告。另外:容易产生错误的是由于光具表面银粒子无光泽,再通过AOI的反射模式，特别是焦点不是在光具银乳胶膜上，就很容易出现假的读出。而表面无光泽的粒子致使真空度下降。这些粒子是甲1基丙1烯酸树脂，直径大约7微米，它能够使光发出散光。
AOI系统具有专门]检验挠性板和经过辊压的形成的薄膜!以及检验高密度的陶瓷和薄膜(TF)封装的产品。在应用上，只要被检测的材料少许具有对比性表面特性的^质或具有随着时间的延长变化特性,如褐色或黑色氧化膜、锡铅合金以及被沾污的表面,采用具有荧光模式的AOI就能提供检测的技术。
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AOI的光线照射有白光和彩色光两类设备，白光是用256层次的灰度，彩色是用红光，绿光，蓝光，光线照射至焊锡/元器件的表面，之后光线反射到镜头中，产生二维图像的三维显示，来反映焊点/元器件的高度和色差。人看到和认识物体是通过光线反射回来的量进行判断，反射量多为亮，反射量少为暗。AOI与人判断的原理相同。
以上信息由专业从事半导体光学检测价格的亿昇光电于2025/3/9 10:13:05发布
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