根据成像方法的不同，AOI又可分为三维（3D）AOI和二维（2D）AOI，三维AOI主要用于物体外形几何参数的测量、零件分组、定位、识别、机器人引导等场合；二维AOI主要用于产品外观（色彩、缺陷等）检测、不同物体或外观分类、良疵品检测与分类等场合。
但对于大幅面或复杂结构物体的视觉检测，由于受到视场和分辨率（或精度）的相互制约，或生产节拍对检测速度有特殊的要求，单相机组成的AOI系统有时难以胜任，因此可能需要有多个基本单元集成在一起，协同工作，共同完成高难度检测任务。即采取一种多传感器成像、高速分布式处理的AOI系统集成架构。
在印制板的铜的表面检查显影后的图形使用的更为普遍。对显影后的图形检查，主要侧重点检查的是图形的对准程度和质量缺陷，同时也可以通过对显影图形的检查,也可以及时发现光具(底片)图像是否有缺陷或其它如灰尘、划伤或沾污，或曝光机存在的其它问题。使用AOI对表面图形的检查,就是利用图形介于光敏抗蚀膜的颜色反射能力低和铜颜色反射能力高的差别进行检查。因为抗蚀剂层的颜色发暗，因此两者比较容易好对比。
有几种方法可用于编程AOI系统：
使用“样板”：一种方法是提供一个已知良好的电路板作为AOI自动光学检测系统的目标。这通过系统传递，以便它可以学习相关属性。它将查看组件，每个接头的焊料轮廓以及许多其他方面。为了给系统提供足够的方差数据，通常需要几个板。
基于算法的编程：将PCB数据提供给系统，然后为板生成自己的配置文件。该方案还需要真正的电路板，但通常需要的电路板较少。
我们常说的光学测量仪，一般是说测量样品的光学透过率，有透光率，也有需要测红外透过率和紫外透过率的、 很多领域都能用到，太阳膜、玻璃、PC材料，手机盖板。
1、光电检测是利用光电传感器实现各类检测。它将被测量的量转换成光通量，再转换成电量，并综合利用信息传送和处理技术，完成在线和自动测量.
2、光学信息处理是基于检验光学器具的参数的吧，比如焦距啊，像差，球差什么的，需要《应用光学》相关方面的知识。
以上信息由专业从事检测不良标记厂的亿昇光电于2025/1/29 18:25:14发布
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