AOI检测系统的通用架构，该系统由光源，相机阵列、显微复检、集群并行处理系统、控制系统、主控计算机、服务器组成，以及与工厂数据中心互联的工业局域网组成。该系统架构具有大幅面表面缺陷低分辨率快速检出和高分辨率显微复检两种功能。从图中可以看出，完整的AOI系统不仅集成了照明与光学成像单元，还需要有被测件支撑传输单元、精密运动机构与控制单元、高速并行图像处理单元等。
光源的选择（颜色、波长、功率、照明方式等）除了分辨与增强特征外，还需考虑图像传感器对光源光谱的灵敏度范围。镜头的选择需要考虑视场角、景深、分辨率等光学参数，镜头的光学分辨率要和图像传感器的空间分辨率匹配才能达到的性价比。一般情况下，镜头的光学分辨率略高于图像传感器的空间分辨率为宜，尽可能采用黑白相机成像，提高成像分辨能力。
自动光学检测用于检查导体电路图形(蚀刻后)的质量：
将抗蚀膜层退除后，检查导体铜电路图形zui广泛的是使用AOI.在这方面的应用是非常普遍的，要获得图像的清晰度的提高,完全决定于过滤器的适当选择,使铜导体表面呈现出不同的变换。zui多的情况,AOI系统检查蚀刻后的导线宽度,这就很容易涉及到多层板内层的导体表面形态和导线边壁的形态的类似的显现,这种形态决定于蚀刻的工艺或微蚀刻的工艺特性。特别是经过电镀的导体线路的经过蚀刻后形态。
AOI系统具有专门]检验挠性板和经过辊压的形成的薄膜!以及检验高密度的陶瓷和薄膜(TF)封装的产品。在应用上，只要被检测的材料少许具有对比性表面特性的^质或具有随着时间的延长变化特性,如褐色或黑色氧化膜、锡铅合金以及被沾污的表面,采用具有荧光模式的AOI就能提供检测的技术。
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